SmartRay bringt den neuen 3D-Sensor ECCO 95.200 für Anwendungen mit großem Sichtfeld auf den Markt SmartRay, der innovative Hersteller von 3D-Sensoren für die Qualitätsprüfung und Messtechnik, hat die neueste Ergänzung seiner branchenführenden ECCO 95-Sensorserie auf den Markt gebracht. Das neueste Modell ist für große Sichtfeldmessungen in einer Reihe von Branchen geeignet. Der ECCO 95.200 bietet Hochgeschwindigkeits-3D-Scans mit bis zu 10 kHz im kompaktem Design, mit einem weiten Sichtfeld und einem großen Messbereich. Das Sichtfeld beträgt 190 mm in der Messbereichsmitte und bis zu 250 mm im Fernfeld, während der Messbereich von bis zu 250 mm im Fernfeld sogar auf 360 [...]

SmartRay war auf der Internationale Fachmesse für Qualitätssicherung, der Control vom 7. bis 10. Mai 2019  in Stuttgart. SmartRay zeigte die ECCO 3D-Sensoren in Aktion und löste damit einige der schwierigsten Anforderungen. Außerdem präsentierten wir SmartX unser Software Toolset um die Produktivität unserer Kunden zu steigern. Live-Demonstrationen: • SmartXtract - Genaue und stabile Messung von glänzenden und reflektierenden Oberflächen. Hochwertige 3D-Datengenerierung mit hochwertigen Reflexionsfilter-Algorithmen. • SmartXpress - Ultra High Speed Scanning mit Erfassung und Übertragung von mehreren Fenstern. Sie können sogar Bereiche im FOV maskieren, um sie vom Scannen auszuschließen. • Glassensor - ECCO 95 für Glas, transparente und andere spiegelnde Oberflächen.

Die Lasersensoren der Serie ECCO 95 sind in der Kombination aus Auflösungsvermögen und Detektions- und Messgeschwindigkeit das neue „3D-Maß der Dinge“. Möglich macht dies die neue Sensorplattform mit ihrem innovativen Elektronikdesign sowie die Blue Laser-Technologie. Als Premium-Serie bieten die 3D-Lasersensoren ECCO 95 eine besondere Performance, die einer Vielzahl von Aufgabenstellungen zu Gute kommt. In der Produktronik, insbesondere in der Halbleiter-, Elektronik- und Solarindustrie, überzeugt der ECCO 95.010 bei der Lötauftrags- und Lötstellen- sowie der Bestückungskontrolle von Leiterplatten, bei der Planaritätsprüfung von Ball Grid Arrays, bei der Kantenkontrolle von Smartphone-Gehäusen in der Montage oder bei der Prüfung von Substratstärken, Oberflächeneigenschaften oder [...]